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Hosmer, David W.

Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow y Rodney X. Sturdivant - 3a ed. - Hoboken, N. J. : John Wiley, 2013 - xvi, 500 páginas - Wiley series in probability and statistics. .

Incluye referencias bibliográficas

ISBN: 978-0-470-58247-3

Subjects--Topical Terms:
Análisis de regresión.

Dewey Class. No.: 519.5´36 / H825a 2013