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Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow y Rodney X. Sturdivant

Por: Colaborador(es): Tipo de material: TextoTextoSeries Wiley series in probability and statisticsDetalles de publicación: Hoboken, N. J. : John Wiley, 2013Edición: 3a edDescripción: xvi, 500 páginasISBN:
  • 978-0-470-58247-3
Tema(s): Clasificación CDD:
  • 519.5´36 H825a 2013
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Impreso Impreso Biblioteca José Luis Bobadilla Reserva 519.5´36 H825a 2013 (Navegar estantería(Abre debajo)) Ej. 1 Disponible RV055454

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