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Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow y Rodney X. Sturdivant
Tipo de material:
TextoSeries Wiley series in probability and statisticsDetalles de publicación: Hoboken, N. J. : John Wiley, 2013Edición: 3a edDescripción: xvi, 500 páginasISBN: - 978-0-470-58247-3
- 519.5´36 H825a 2013
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
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Impreso
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Biblioteca José Luis Bobadilla | Reserva | 519.5´36 H825a 2013 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 1 | Disponible | RV055454 |
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Incluye referencias bibliográficas
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