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1.
Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow. [Recurso electrónico] por Series Wiley series in probability and statistics
Edición: 2a ed.
Tipo de material: Archivo de ordenador Archivo de ordenador; Formato: electrónico
Detalles de publicación: New York : Word Bank, 2000
Acceso en línea:
Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca José Luis Bobadilla (1)Signatura topográfica: 519.5´36 H825a 2000.

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2.
Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow y Rodney X. Sturdivant por Series Wiley series in probability and statistics
Edición: 3a ed.
Tipo de material: Texto Texto
Detalles de publicación: Hoboken, N. J. : John Wiley, 2013
Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca José Luis Bobadilla (1)Signatura topográfica: 519.5´36 H825a 2013.

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